chercheur en entreprise, R&D du secteur privé*pilotage de la recherche et de linnovation, gestion de projets innovants, pilotage de structures innovantes*expertise, études et conseils dans des organisations, cabinets ou sociétés fournissant des prestations intellectuelles, des expertises scientifiques, prospectives ou stratégiques*
Coordonnées
Doctorat
Intitulé : Sciences pour l'ingénieur : spécialité Micro et Nanoélectronique
1ère inscription en thèse :
Mai 2014
École doctorale :
SCIENCES POUR L'INGENIEUR : Mécanique, Physique, Micro et Nanoélectronique
Date de soutenance de la thèse :
12 Décembre 2018
Sujet :
modélisation multi-échelle des effets radiatifs pour l'électronique spatiale émergente : des transistors aux puces en orbite
Directeur de thèse :
Jean-Luc AUTRAN
Co-directeur :
Daniela MUNTEANU
Unité de recherche :
IM2NP - Institut Matériaux Microélectronique Nanosciences de Provence
Intitulé de l'équipe :
Master
Intitulé : Ingénieur diplômé de l'Ecole Supérieure d'Electricité
février 2014 - Ecole Supérieure d'Electricité (Supélec)
Langues vivantes
Anglais : C2 - Courant
Allemand : C2 - Courant
Français : C2 - Maternel
Production scientifique
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Alpha soft error rate of FDSOI 28 nm SRAMs: Experimental testing and simulation analysis
2015 IEEE International Reliability Physics Symposium (IRPS)
2015
Malherbe, V.; Gasiot, G.; Soussan, D.; Patris, A.; Autran, J.-L.; Roche, P.
http://ieeexplore.ieee.org/document/7112829/
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Muons and thermal neutrons SEU characterization of 28nm UTBB FD-SOI and Bulk eSRAMs
Reliability Physics Symposium (IRPS), 2015 IEEE International
2015
Gasiot, G.; Soussan, D.; Autran, J.-L.; Malherbe, V.; Roche, P.
http://ieeexplore.ieee.org/document/7112677/
-
An Improved Particle-Level Charge Transport Model for the Simulation of Radiation-Induced Current Pulses in Bulk Silicon CMOS Technology
Nuclear and Space Radiation Effect Conference
2015
Victor Malherbe, Gilles Gasiot, Jean-Luc Autran, Philippe Roche
-
Investigating the single-event-transient sensitivity of 65 nm clock trees with heavy ion irradiation and Monte-Carlo simulation
2016 IEEE International Reliability Physics Symposium
2016
Victor Malherbe; Gilles Gasiot; Sylvain Clerc; Fady Abouzeid; Jean-Luc Autran; Philippe Roche
http://ieeexplore.ieee.org/document/7574639/
-
On-Orbit Upset Rate Prediction at Advanced Technology Nodes: a 28 nm FD-SOI Case Study
IEEE Transactions on Nuclear Science
2016
Victor Malherbe, Gilles Gasiot, Dimitri Soussan, Jean-Luc Autran, Philippe Roche
-
Charge Collection Physical Modeling for Soft Error Rate Computational Simulation in Digital Circuits
Modeling and Simulation in Engineering Sciences
2016
Jean-Luc Autran, Daniela Munteanu, Soilihi Moindjie, Tarek Saad Saoud, Victor Malherbe, Gilles Gasiot, Sylvain Clerc, Philippe Roche
http://www.intechopen.com/books/modeling-and-simulation-in-engineering-sciences/charge-collection-physical-modeling-for-soft-error-rate-computational-simulation-in-digital-circuits
-
Radiation-hardened CMOS logic device
N/A
2016
Gilles GASIOT. Victor MALHERBE. Sylvain CLERC.
-
Accurate Resolution of Time-Dependent and Circuit-Coupled Charge Transport Equations: 1D Case Applied to 28 nm FD-SOI Devices
Transactions on Nuclear Science
2017
Victor Malherbe, Gilles Gasiot, Thomas Thery, Jean-Luc Autran, Philippe Roche