Travailler dans le milieu du design analogique et de la sécurité.

Coordonnées

Techniques maîtrisées

Conception de circuit (analogique et numérique), réalisation d’amplificateur, radio fréquence, RFID, Power management, Bandgap, Voltage reference, traitement du signal, Design, Layout. - Cadence: Analog Artist, Spectre - Layout XL - Mentor Graphics: Eldo - CMOS040 40nm, CMOS 65nm - Système d'exploitation UNIX

Compétences

Anglais - Advanced level et obtention du FCE Cambridge (B2 level). Voyage de 9 mois à Vancouver (Canada).

Doctorat

Intitulé : « Sciences pour l'ingénieur » : spécialité « Micro et Nanoélectronique »
1ère inscription en thèse : Janvier 2013
École doctorale : SCIENCES POUR L'INGENIEUR : Mécanique, Physique, Micro et Nanoélectronique
Date de soutenance de la thèse : 3 Décembre 2015
Sujet : Evaluation sécuritaire et conception de contre-mesures pour architecture à faible consommation
Directeur de thèse : Wenceslas RAHAJANDRAIBE
Co-directeur : Edith KUSSENER
Unité de recherche : IM2NP - INSTITUT MATERIAUX MICROELECTRONIQUE NANOSCIENCES DE PROVENCE
Intitulé de l'équipe :

Master

Intitulé : Master recherche microélectronique
Septembre 2011 - AMU (P1)
Mention : TB

Langues vivantes

:
:

Production scientifique

  • Characterization and simulation of triple well technology under pulsed photoelectric laser stimulation
    ISTFA 2014
    N. Borrel, C. Champeix, M. Lisart, A. Sarafianos, E. Kussener, W. Rahajandraibe, J-M. Dutertre
  • Electrical model of an NMOS body biased structure in triple-well technology under photoelectric laser stimulation
    IRPS 2015
    N. Borrel, C. Champeix, E. Kussener, W. Rahajandraibe, M. Lisart, J-M. Dutertre, A. Sarafianos
  • Electrical model of a PMOS body biased structure in triple-well technology under pulsed photoelectric laser stimulation
    IPFA 2015
    N. Borrel, C. Champeix, E. Kussener, W. Rahajandraibe, M. Lisart, A. Sarafianos
  • Electrical model of an Inverter body biased structure in triple-well technology under pulsed photoelectric laser stimulation
    ESREF & Microelectronics Reliability 2015
    N. Borrel, C. Champeix, E. Kussener, W. Rahajandraibe, M. Lisart, J-M. Dutertre, A. Sarafianos
  • Influence of triple-well technology on laser fault injection and laser sensor efficiency
    DFTS 2015
    N. Borrel, C. Champeix, E. Kussener, W. Rahajandraibe, M. Lisart, J-M. Dutertre, A. Sarafianos
  • Experimental validation of a bulk built-in current sensor detecting laser-induced currents
    IOLTS 2015
    Clement Champeix, Nicolas Borrel, Jean-Max Dutertre, Bruno Robisson, Mathieu Lisart and Alexandre Sarafianos
  • Laser Fault Injection into SRAM cells: Picosecond versus Nanosecond pulses
    IOLTS 2015
    Marc Lacruche, Nicolas Borrel, Clément Champeix, Alexandre Sarafianos, Cyril Roscian, Jean-Batiste Rigaud, Jean-Max Dutertre and Edith Kussener
  • Dynamic Current Reduction of CMOS Digital Circuits through Design and Process Optimizations
    PATMOS 2015
    J. Innocenti, L. Welter, N. Borrel, F. Julien, J.M. Portal, J. Sonzogni, L. Lopez, P. Masson, S. Niel, P. Dreux and J. Castellan
  • Electrical modeling of a picosecond pulsed photoelectric laser stimulation of a D Flip-Flop in 40 nm technology
    DFTS 2015
    Clement Champeix, Nicolas Borrel, Jean-Max Dutertre, Bruno Robisson, Mathieu Lisart and Alexandre Sarafianos