chercheur en entreprise, R&D du secteur privé*
Coordonnées
Doctorat
Intitulé : PHYSIQUE & SCIENCES DE LA MATIERE - Spécialité : MATIERE CONDENSEE et NANOSCIENCES
1ère inscription en thèse :
Janvier 2016
École doctorale :
Physique et Sciences de la Matière
Date de soutenance de la thèse :
5 Mars 2019
Sujet :
Etude in situ de la cristallisation et des contraintes dans des nanostructures de GeTe par diffraction du rayonnement X synchrotron
Directeur de thèse :
Olivier THOMAS
Co-directeur :
Cristian MOCUTA
Unité de recherche :
IM2NP - Institut Matériaux Microélectronique Nanosciences de Provence
Intitulé de l'équipe :
Master
Intitulé : Titre d'ingénieur de l'école polytechnique de l'université Paris-XI
Septembre 2015 - Polytech Paris sud
Langues vivantes
Français : C2 - Maternel
Anglais : C2 - Maternel
Production scientifique
-
Fast X-ray reflectivity measurements using an X-ray pixel area detector at the DiffAbs beamline, Synchrotron SOLEIL
Journal of Synchrotron Radiation
2018
C. Mocuta, S. Stanescu, M. Gallard, A. Barbier, A. Dawiec, B. Kedjar, N. Leclercq and D. Thiaudiere
https://doi.org/10.1107/S1600577517015703
-
In situ monitoring of stress in GeTe thin films during thermal annealing and crystallization
Microelectronic Engineering
2018
B. Ben Yahia, M. S. Amara, M. Gallard, N. Burles, S. Escoubas, C. Guichet, M. Putero, M.-I. Richard, R. Chahine, C. Sabbione, L. Fellouh, P. Noe and O. Thomas
