chercheur en entreprise, R&D du secteur privé*ingénieure en électronique industrielle spécialisée en système embarqué
Coordonnées
Techniques maîtrisées
connaissances variées dans le domaine de l'électronique industrielle avec la maitrise de plusieurs logiciels de développement, de conception ... tels que:
VHDL,System C, Java, C.CCS, PICC, MATLAB, Eclipse, Flowcode, AutoCad, Visual studio, Modelsim, Xilinx, ISIS Proteus, Step7, Quartus, Altium, Labview, IAR Embedded Workbench
Compétences
intégralité facile dans le cadre d'un groupe, compétence de communication , travail en groupe , capacité d'apprentissage
Doctorat
Intitulé : Sciences pour l'ingénieur : spécialité Micro et Nanoélectronique
1ère inscription en thèse :
février 2015
École doctorale :
SCIENCES POUR L'INGENIEUR : Mécanique, Physique, Micro et Nanoélectronique
Date de soutenance de la thèse :
13 Avril 2018
Sujet :
Méthodes innovantes de gestion Statique et Dynamique de la fiabilité électrique des Circuits CMOS M40 et 28FD sous conditions réelles dutilisation (HTOL)
Directeur de thèse :
Alain BRAVAIX
Co-directeur :
Unité de recherche :
IM2NP - Institut Matériaux Microélectronique Nanosciences de Provence
Intitulé de l'équipe :
Master
Intitulé : diplôme national d'ingénieur
Septembre 2014 - Ecole nationale d'ingénieurs de sousse
Mention : assez bien
Langues vivantes
Anglais : C2 - Courant
Français : C2 - Courant
Arabe : C2 - Maternel
Production scientifique
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MISSION PROFILE RECORDER:
AN AGING MONITOR FOR HARD EVENTS
IRPS , conférence
2016
S. Mhira, V. Huard, A. Jain, F. Cacho, D. Meyer, S. Naudet, A. Bravaix, C. Parthasarathy
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Dynamic Adaptive Voltage Scaling in Automotive environment
IEEE International Reliability Physics Symposium
2017
S. Mhira, V. Huard, F. Cacho, A. Benhassain, A. Jain C. Parthasarathy, S. Naudet, A. Bravaix,
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Cognitive approach to support dynamic aging compensation
IEEE International Symposium on On-Line Testing and Robust System Design
2017
S. Mhira, V. Huard, A. Bravaix, A. Benhassain, F. Cacho, S. Naudet, A.Jain, C. Parthasarathy
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FDSOI CMOS Technologies: New Resilient Digital Circuits Based on Adaptive Voltage Scaling for IoT Devices hardened against Variability and Aging
BITs 7th Annual World Congress of nano Science & Technology
2017
A. Bravaix, S. Mhira, V. Huard
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Robust Automotive Products in Advanced CMOS Nodes
IEEE International Reliability Physics Symposium
2017
.] V. Huard, S. Mhira, M. De Tomasi, E. Trabace, R. Enrici Vaion, P. Zabberoni,
-
Joint Design/Test approach to manage reliability of automotive products in advanced CMOS nodes
Automotive Reliability and Test workshop
2017
.] V. Huard, S. Mhira, P. Flatresse, A. Bravaix
-
Hot-Carrier and BTI Damage Distinction for High Performance Digital Application in 28nm FDSOI and 28nm LP CMOS nodes
IEEE International Symposium on On-Line Testing and Robust System Design
2016
A. Bravaix, M. Saliva, F. Cacho, X. Federspiel, C. Ndiaye, S. Mhira, E. Kussener, E. Pauly V. Huard,
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Study of Workload Impact on BTI HCI Induced Aging of Digital Circuits
Proceedings of Design, Automation & Test in Europe Conference
2016
A. Sivadasan, A. Notin, V. Huard, E. Maurin, S. Mhira, F. Cacho, L. Anghel
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Activity profiling: Review of different solutions to develop reliable and performant design
Proceedings of On-Line Testing and Robust System Design
2016
F. Cacho, A. Benhassain, S. Mhira, A. Sivadasan, V. Huard, P. Cathelin, V. Knopick, A. Jain, C. Parthasarathy