chercheur en entreprise, R&D du secteur privé*ingénieure en électronique industrielle spécialisée en système embarqué

Coordonnées

Techniques maîtrisées

connaissances variées dans le domaine de l'électronique industrielle avec la maitrise de plusieurs logiciels de développement, de conception ... tels que: VHDL,System C, Java, C.CCS, PICC, MATLAB, Eclipse, Flowcode, AutoCad, Visual studio, Modelsim, Xilinx, ISIS Proteus, Step7, Quartus, Altium, Labview, IAR Embedded Workbench

Compétences

intégralité facile dans le cadre d'un groupe, compétence de communication , travail en groupe , capacité d'apprentissage

Doctorat

Intitulé : Sciences pour l'ingénieur : spécialité Micro et Nanoélectronique
1ère inscription en thèse : février 2015
École doctorale : SCIENCES POUR L'INGENIEUR : Mécanique, Physique, Micro et Nanoélectronique
Date de soutenance de la thèse : 13 Avril 2018
Sujet : Méthodes innovantes de gestion Statique et Dynamique de la fiabilité électrique des Circuits CMOS M40 et 28FD sous conditions réelles d’utilisation (HTOL)
Directeur de thèse : Alain BRAVAIX
Co-directeur :
Unité de recherche : IM2NP - Institut Matériaux Microélectronique Nanosciences de Provence
Intitulé de l'équipe :

Master

Intitulé : diplôme national d'ingénieur
Septembre 2014 - Ecole nationale d'ingénieurs de sousse
Mention : assez bien

Langues vivantes

Anglais : C2 - Courant
Français : C2 - Courant
Arabe : C2 - Maternel

Production scientifique

  • MISSION PROFILE RECORDER: AN AGING MONITOR FOR HARD EVENTS
    IRPS , conférence 2016
    S. Mhira, V. Huard, A. Jain, F. Cacho, D. Meyer, S. Naudet, A. Bravaix, C. Parthasarathy
  • Dynamic Adaptive Voltage Scaling in Automotive environment
    IEEE International Reliability Physics Symposium 2017
    S. Mhira, V. Huard, F. Cacho, A. Benhassain, A. Jain C. Parthasarathy, S. Naudet, A. Bravaix,
  • Cognitive approach to support dynamic aging compensation
    IEEE International Symposium on On-Line Testing and Robust System Design 2017
    S. Mhira, V. Huard, A. Bravaix, A. Benhassain, F. Cacho, S. Naudet, A.Jain, C. Parthasarathy
  • FDSOI CMOS Technologies: New Resilient Digital Circuits Based on Adaptive Voltage Scaling for IoT Devices hardened against Variability and Aging
    BIT’s 7th Annual World Congress of nano Science & Technology 2017
    A. Bravaix, S. Mhira, V. Huard
  • Robust Automotive Products in Advanced CMOS Nodes
    IEEE International Reliability Physics Symposium 2017
    .] V. Huard, S. Mhira, M. De Tomasi, E. Trabace, R. Enrici Vaion, P. Zabberoni,
  • Joint Design/Test approach to manage reliability of automotive products in advanced CMOS nodes
    Automotive Reliability and Test workshop 2017
    .] V. Huard, S. Mhira, P. Flatresse, A. Bravaix
  • Hot-Carrier and BTI Damage Distinction for High Performance Digital Application in 28nm FDSOI and 28nm LP CMOS nodes
    IEEE International Symposium on On-Line Testing and Robust System Design 2016
    A. Bravaix, M. Saliva, F. Cacho, X. Federspiel, C. Ndiaye, S. Mhira, E. Kussener, E. Pauly V. Huard,
  • Study of Workload Impact on BTI HCI Induced Aging of Digital Circuits
    Proceedings of Design, Automation & Test in Europe Conference 2016
    A. Sivadasan, A. Notin, V. Huard, E. Maurin, S. Mhira, F. Cacho, L. Anghel
  • Activity profiling: Review of different solutions to develop reliable and performant design
    Proceedings of On-Line Testing and Robust System Design 2016
    F. Cacho, A. Benhassain, S. Mhira, A. Sivadasan, V. Huard, P. Cathelin, V. Knopick, A. Jain, C. Parthasarathy