Madame Amina MERABET / Docteur

chercheur en milieu académique*chercheur en entreprise, R&D du secteur privé*

Coordonnées

amina.merabet@im2np.fr
amina.merabet@etu.univ-amu.fr

Adresse professionnelle

IM2NP Faculté des Sciences et Techniques Avenue Escadrille Normandie Niemen Service 262 13397 Marseille Cedex 20 France, 13013 MARSEILLE , FRANCE

+33 (0)4 91 28 87 10

Expérience professionnelle

Emplois

Disponibilité : 12 2018

Mobilité géographique : France

Recherche : OUI

Techniques maîtrisées

-Préparation des échantillons pour les observations en microscopie électronique. -Maitrise de différentes techniques de microscopie (FIB-SEM-TEM-HRTEM).

Doctorat

Titre : PHYSIQUE & SCIENCES DE LA MATIERE - Spécialité : MATIERE CONDENSEE et NANOSCIENCES

1ère inscription en thèse : 1 octobre 2015 / 3A

Ecole doctorale : Physique et Sciences de la Matière

Date de soutenance de thèse : 18 décembre 2018

Sujet : Etude par microscopie électronique du silicium aux petites échelles : comportement mécanique et structure atomique des défauts.

Directeur de thèse : THOMAS Olivier

Co-directeur : TEXIER Michael

Unité de recherche : IM2NP - Institut Matériaux Microélectronique Nanosciences de Provence

Master

Titre : Sciences et génie des matériaux

juin 2015 - Ecole Nationale Supérieure des Mines et Metallurgie

Production scientifique

  • Low-temperature intrinsic plasticity in silicon at small scales
    Acta Materialia, 2018
    A.Merabet, M.Texier, C.Tromas, S.Brochard, L.Pizzagalli, L.Thilly, J.Rabier, A.Talneau, Y.-M.Le Vaillant, O.Thomas, J.Godet.
    https://doi.org/10.1016/j.actamat.2018.09.025
  • Atomic scale mechanisms and brittle to ductile transition at low size in silicon
    Materials Today: Proceedings, 2018
    S. Brochard, F. Abed El Nabi, L. Pizzagalli, A. Merabet, M. Texier, C. Tromas, J. Godet
    https://doi.org/10.1016/j.matpr.2018.03.059
  • Plastic behaviour and deformation mechanisms in silicon nano-objects
    Journal of Physics: Conference Series (JPCS), 2018
    M. Texier, A. Merabet, C. Tromas, S. Brochard, L. Pizzagalli, L. Thilly, J. Rabier, A. Talneau, Y.-M. Le Vaillant, O. Thomas, J. Godet

  • Piezoelectric response by in situ synchrotron X-ray diffraction and electrical properties of PZT thin films: The role of imprint and composition
    JOURNAL OF APPLIED PHYSICS, 2017
    T.W. Cornelius1, C. Mocuta, S. Escoubas, A. Merabet, M. Texier, E.C. Lima, E.B. Araujo,A.L. Kholkin, O. Thomas
    https://doi.org/10.1063/1.4994939

Langues

Anglais : C1 - Avancé

Français : C1 - Avancé

Arabe : C2 - Maternel

Espagnol : A2 - Élémentaire