Madame Amina MERABET / PhD

chercheur en milieu académique*chercheur en entreprise, R&D du secteur privé*

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amina.merabet@im2np.fr
amina.merabet@etu.univ-amu.fr

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IM2NP Faculté des Sciences et Techniques Avenue Escadrille Normandie Niemen Service 262 13397 Marseille Cedex 20 France, 13013 MARSEILLE , FRANCE

+33 (0)4 91 28 87 10

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Jobs

Availability : 12 2018

Mobility : France

Research : OUI

Techniques

-Préparation des échantillons pour les observations en microscopie électronique. -Maitrise de différentes techniques de microscopie (FIB-SEM-TEM-HRTEM).

PhD

Title : PHYSIQUE & SCIENCES DE LA MATIERE - Spécialité : MATIERE CONDENSEE et NANOSCIENCES

First registration date : 1 October 2015 / 3A

Doctoral school : Physique et Sciences de la Matière

Thesis defense date : 18 December 2018

Subject : Etude par microscopie électronique du silicium aux petites échelles : comportement mécanique et structure atomique des défauts.

Thesis supervisor : THOMAS Olivier

Thesis co-supervisor : TEXIER Michael

Research unit : IM2NP - Institut Matériaux Microélectronique Nanosciences de Provence

Master's degree

Title : Sciences et génie des matériaux

June 2015 - Ecole Nationale Supérieure des Mines et Metallurgie

Publications

  • Low-temperature intrinsic plasticity in silicon at small scales
    Acta Materialia, 2018
    A.Merabet, M.Texier, C.Tromas, S.Brochard, L.Pizzagalli, L.Thilly, J.Rabier, A.Talneau, Y.-M.Le Vaillant, O.Thomas, J.Godet.
    https://doi.org/10.1016/j.actamat.2018.09.025
  • Atomic scale mechanisms and brittle to ductile transition at low size in silicon
    Materials Today: Proceedings, 2018
    S. Brochard, F. Abed El Nabi, L. Pizzagalli, A. Merabet, M. Texier, C. Tromas, J. Godet
    https://doi.org/10.1016/j.matpr.2018.03.059
  • Plastic behaviour and deformation mechanisms in silicon nano-objects
    Journal of Physics: Conference Series (JPCS), 2018
    M. Texier, A. Merabet, C. Tromas, S. Brochard, L. Pizzagalli, L. Thilly, J. Rabier, A. Talneau, Y.-M. Le Vaillant, O. Thomas, J. Godet

  • Piezoelectric response by in situ synchrotron X-ray diffraction and electrical properties of PZT thin films: The role of imprint and composition
    JOURNAL OF APPLIED PHYSICS, 2017
    T.W. Cornelius1, C. Mocuta, S. Escoubas, A. Merabet, M. Texier, E.C. Lima, E.B. Araujo,A.L. Kholkin, O. Thomas
    https://doi.org/10.1063/1.4994939

Languages

Anglais : C1 - Avancé

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