Monsieur Mike EL KOUSSEIFI / PhD

Contact details

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Research : NON

Title : PHYSIQUE & SCIENCES DE LA MATIERE - Spécialité : MATIERE CONDENSEE et NANOSCIENCES

First registration date : 1 October 2011 / 3A

Doctoral school : Physique et Sciences de la Matière

Thesis defense date : 6 November 2014

Subject : Contact à base des siliciures de Ni: diffusion et réaction dans les films nanometrique et les nanofils

Thesis supervisor : MANGELINCK Dominique

Thesis co-supervisor :

Research unit : IM2NP - Institut Matériaux Microélectronique Nanosciences de Provence

Title : master sciences, technologies, sante, physique

July 2011 - universite de provence

Mention : Bien

Ni silicide nanowires analysis by atom probe tomography
Microelectronic Engineering, 2014
M. El Kousseifi, F. Panciera, K. Hoummada, M. Descoins, T. Baron, D. Mangelinck
Ni(Pt)-silicide contacts on CMOS devices: Impact of substrate nature and Pt concentration on the phase formation
Microelectronic Engineering, 2014
F. Panciera, K. Hoummada, C. Perrin, M. El Kousseifi, R. Pantel, M. Descoins, M. Gregoire, M. Juhel, D. Mangelinck
Atom probe tomography for advanced metallization
Microelectronic Engineering, 2014
D. Mangelinck, F. Panciera, K. Hoummada, M. El Kousseifi, C. Perrin, M. Descoins, A. Portavoce
Progress in the understanding of Ni silicide formation for advanced MOS structures
physica status solidi (a), 2014
D. Mangelinck1,*, K. Hoummada1, F. Panciera1,2, M. El Kousseifi1, I. Blum1, M. Descoins1, M. Bertoglio1, A. Portavoce1, C. Perrin1 M. Putero1
Ni silicide study at the atomic scale: diffusing species, relaxation and grooving mechanisms
Acta Materialia, 2014
M. El Kousseifi1, K. Hoummada1, D. Mangelinck1

Anglais : C2 - Courant

Français : C2 - Courant

Arabe : C2 - Maternel