Characterization and modeling of NVM devices, based on principle of charge trapping.
Coordonnées
Techniques maîtrisées
Knowledge of laboratory instruments functioning. In particular instruments used for electrical characterization as: HP8110A e HP8114A (Pulse Generator), HP4284A (LCR Meter), HP4142B e HP4155B (Parameter Analyzer) , HP5250A (Switch Matrix). Software: LabView, Mathcad, C.
Compétences
Excellent skills while working in a team with divided tasks, in order to reach the same goal.
Doctorat
Intitulé : Micro et Nanoélectronique
1ère inscription en thèse :
Avril 2010
École doctorale :
SCIENCES POUR L'INGENIEUR : Mécanique, Physique, Micro et Nanoélectronique
Date de soutenance de la thèse :
24 Juin 2013
Sujet :
CARACTERISATION ET MODELISATION DES MEMOIRES NON VOLATILES AVANCEES PIÉGEAGE DE CHARGE
Directeur de thèse :
Frédéric LALANDE
Co-directeur :
Unité de recherche :
IM2NP - INSTITUT MATERIAUX MICROELECTRONIQUE NANOSCIENCES DE PROVENCE
Intitulé de l'équipe :
Master
Intitulé : Electronic Engineering Masters Degree
Avril 2008 - Università degli studi di Modena e Reggio Emilia
Langues vivantes
Anglais : Courant
Français : Courant
Italien : Maternel
