Coordonnées

Techniques maîtrisées

Statistiques décisionnelles, data mining, optimisation stochastique, statistiques de l'assurance. Logiciels : SAS, R, Klarity ACE XP, Oracle, CPLEX, XPRESS, Maple Langages : Java, C++, OPL, Mosel

Compétences

Autonomie Habiletés analytiques Aptitude à la communication orale et écrite Travail en équipe Organisation et planification Enthousiasme/motivation

Doctorat

Intitulé : Automatique
1ère inscription en thèse : Septembre 2010
École doctorale : Mathématiques et Informatique de Marseille
Date de soutenance de la thèse : 9 Juillet 2014
Sujet : "Calcul d'indicateurs de la santé global des équipements et pronostic de défaillance pour la maintenance prédictive dans un processus de fabrication de semi-conducteurs".
Directeur de thèse : Mustapha OULADSINE
Co-directeur :
Unité de recherche : LIS Laboratoire d'Informatique et Systèmes
Intitulé de l'équipe :

Master

Intitulé : Mathématiques et Informatique des Nouvelles Technologies
Octobre 2009 - Université de Luminy Aix-Marseille II
Mention : Bien

Langues vivantes

Allemand : B1 - Intermédiaire
Anglais : B2 - Intermédiaire supérieur

Production scientifique

  • A Survey of Health Indicators and Data-Driven Prognosis in Semiconductor Manufacturing Process
    IFAC SAFEPROCESS 2012
    Thieullen, A. ; Ouladsine, M. ; Pinaton, J.
    http://dx.doi.org/10.3182/20120829-3-mx-2028.00246
  • Efficient FDC based on hierarchical tool condition monitoring scheme
    Advanced Semiconductor Manufacturing Conference (ASMC), 2012 23th Annual SEMI 2012
    Blue, J.; Roussy, A.; Thieullen, A.; Pinaton, J.
    http://ieeexplore.ieee.org/stamp/stamp.jsp?tp=&arnumber=6212927&isnumber=6212853
  • Application of PCA for efficient multivariate FDC of semiconductor manufacturing equipment
    Advanced Semiconductor Manufacturing Conference (ASMC), 2013 24th Annual SEMI 2013
    Thieullen, A.; Ouladsine, M.; Pinaton, J.
    http://ieeexplore.ieee.org/stamp/stamp.jsp?tp=&arnumber=6552755&isnumber=6552738
  • Application of Principal Components Analysis to Improve Fault Detection and Diagnosis on Semiconductor Manufacturing Equipment
    2013 European Control Conference (ECC) 2013
    Alexis Thieullen, Mustapha Ouladsine, Jacques Pinaton
    http://www.nt.ntnu.no/users/skoge/prost/proceedings/ecc-2013/data/papers/0815.pdf
  • Dispatching of lots to dynamically reduce the wafers at risk in semiconductor manufacturing
    Automation Science and Engineering (CASE) 2012
    Rodriguez-Verjan, G.; Tartiere, E.; Pinaton, J.; Dauzere-Peres, S.; Thieullen, A.
    http://ieeexplore.ieee.org/stamp/stamp.jsp?tp=&arnumber=6386374&isnumber=6386304