Coordonnées
Techniques maîtrisées
Statistiques décisionnelles, data mining, optimisation stochastique, statistiques de l'assurance.
Logiciels : SAS, R, Klarity ACE XP, Oracle, CPLEX, XPRESS, Maple
Langages : Java, C++, OPL, Mosel
Compétences
Autonomie
Habiletés analytiques
Aptitude à la communication orale et écrite
Travail en équipe
Organisation et planification
Enthousiasme/motivation
Doctorat
Intitulé : Automatique
1ère inscription en thèse :
Septembre 2010
École doctorale :
Mathématiques et Informatique de Marseille
Date de soutenance de la thèse :
9 Juillet 2014
Sujet :
"Calcul d'indicateurs de la santé global des équipements et pronostic de défaillance pour la maintenance prédictive dans un processus de fabrication de semi-conducteurs".
Directeur de thèse :
Mustapha OULADSINE
Co-directeur :
Unité de recherche :
LIS Laboratoire d'Informatique et Systèmes
Intitulé de l'équipe :
Master
Intitulé : Mathématiques et Informatique des Nouvelles Technologies
Octobre 2009 - Université de Luminy Aix-Marseille II
Mention : Bien
Langues vivantes
Allemand : B1 - Intermédiaire
Anglais : B2 - Intermédiaire supérieur
Production scientifique
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A Survey of Health Indicators and Data-Driven Prognosis in Semiconductor Manufacturing Process
IFAC SAFEPROCESS
2012
Thieullen, A. ; Ouladsine, M. ; Pinaton, J.
http://dx.doi.org/10.3182/20120829-3-mx-2028.00246
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Efficient FDC based on hierarchical tool condition monitoring scheme
Advanced Semiconductor Manufacturing Conference (ASMC), 2012 23th Annual SEMI
2012
Blue, J.; Roussy, A.; Thieullen, A.; Pinaton, J.
http://ieeexplore.ieee.org/stamp/stamp.jsp?tp=&arnumber=6212927&isnumber=6212853
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Application of PCA for efficient multivariate FDC of semiconductor manufacturing equipment
Advanced Semiconductor Manufacturing Conference (ASMC), 2013 24th Annual SEMI
2013
Thieullen, A.; Ouladsine, M.; Pinaton, J.
http://ieeexplore.ieee.org/stamp/stamp.jsp?tp=&arnumber=6552755&isnumber=6552738
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Application of Principal Components Analysis to Improve Fault
Detection and Diagnosis on Semiconductor Manufacturing Equipment
2013 European Control Conference (ECC)
2013
Alexis Thieullen, Mustapha Ouladsine, Jacques Pinaton
http://www.nt.ntnu.no/users/skoge/prost/proceedings/ecc-2013/data/papers/0815.pdf
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Dispatching of lots to dynamically reduce the wafers at risk in semiconductor manufacturing
Automation Science and Engineering (CASE)
2012
Rodriguez-Verjan, G.; Tartiere, E.; Pinaton, J.; Dauzere-Peres, S.; Thieullen, A.
http://ieeexplore.ieee.org/stamp/stamp.jsp?tp=&arnumber=6386374&isnumber=6386304