Monsieur SEBASTIEN PERRIN / Docteur

chercheur en entreprise, R&D du secteur privé*pilotage de la recherche et de l'innovation, gestion de projets innovants, pilotage de structures innovantes*

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Doctorat

Titre : Sciences pour l'ingénieur : spécialité Micro et Nanoélectronique

1ère inscription en thèse : 1 juin 2022 / 3A

Ecole doctorale : Sciences pour l'Ingénieur : Mécanique, Physique, Micro et Nanoélectronique

Date de soutenance de thèse : 1 décembre 2025

Sujet : Étude de la variabilité induite par le procédé de fabrication et l'architecture des mémoires Flash embarquées : Impact sur leur fiabilité.

Directeur de thèse : PORTAL Jean-Michel

Co-directeur : DELLA MARCA Vincenzo

Unité de recherche : Institut Matériaux Microélectronique Nanosciences de Provence

Master

Titre : Master de Science, Technologie, Santé

octobre 2018 - Université de Montpellier

Production scientifique

  • A predictive method for the degradation of a charge storage memory on a dedicated 4kb test vehicle.
    International Integrated Reliability Workshop, 2025
    Perrin Sebastien, Alkema Khaled, Della Marca Vincenzo, Kempf Thibault, Paulet Olivier, Arteaga Martin, Akbal Madjid, Arrazat Brice, Metz Joël, Moragues, Jean-Michel, Regnier Arnaud, Bocquet Marc, Portal Jean-Michel
    10.1109/IIRW62856.2024.10947141
  • New statistical analysis methodology to forecast the memory cell behavior before reliability test.
    Microelectronics Reliability, 2025
    S. Perrin, V. Della Marca, T. Kempf, M. Bocquet, L. Welter, J.M. Moragues, A. Regnier, J.M. Portal
    https://doi.org/10.1016/j.microrel.2025.115659
  • Predictive Method of Charge Storage Memory Degradation on a Dedicated 4kb Test Vehicle
    Transaction on Device and Materials Reliability, 2025
    Perrin Sebastien, Alkema Khaled, Della Marca Vincenzo, Kempf Thibault, Paulet Olivier, Arteaga Martin, Akbal Madjid, Arrazat Brice, Metz Joël, Moragues, Jean-Michel, Regnier Arnaud, Bocquet Marc, Portal Jean-Michel
    10.1109/TDMR.2025.3572856
  • Punch-through variability in buried channel transistors
    International Conference on Design, Test and Technology of Integrated Systems (DTTIS), 2024
    Belabbas C. ,Perrin S. ,Habhab R. , Della Marca V. , Masson P. , Canet P. , Portal J-M. , Kempf T. , Miridi N. , Mantelli M. , Niel S. ,Regnier A.
    10.1109/DTTIS62212.2024.10780055
  • Investigating Reliability of NIR QD-based Photodiodes Under Bias and Light Stres
    International Integrated Reliability Workshop, 2022
    Hammad Ismail, Coignus Jean, Ney David, Doyen Celestin, Perrin Sebastien, Ricq Stephane, Cacho Florian, Wantz Guillaume, Federspiel Xavier, Roy David, Josse Emmanuel.
    10.1109/IIRW56459.2022.10032751

Langues

Anglais : B1 - Intermédiaire

Français : C2 - Maternel