chercheur en milieu académique*chercheur en entreprise, R&D du secteur privé*
Coordonnées
amina.merabet@im2np.fr
amina.merabet@etu.univ-amu.fr
Expérience professionelle
Type de contrat : En recherche d'emploi
Adresse professionnelle
IM2NP
Faculté des Sciences et Techniques
Avenue Escadrille Normandie Niemen
Service 262
13397 Marseille Cedex 20
France
13013 MARSEILLE
+33 (0)4 91 28 87 10
Techniques maîtrisées
-Préparation des échantillons pour les observations en microscopie électronique.
-Maitrise de différentes techniques de microscopie (FIB-SEM-TEM-HRTEM).
Doctorat
Intitulé : PHYSIQUE & SCIENCES DE LA MATIERE - Spécialité : MATIERE CONDENSEE et NANOSCIENCES
1ère inscription en thèse :
Octobre 2015
École doctorale :
Physique et Sciences de la Matière
Date de soutenance de la thèse :
18 Décembre 2018
Sujet :
Etude par microscopie électronique du silicium aux petites échelles : comportement mécanique et structure atomique des défauts.
Directeur de thèse :
Olivier THOMAS
Co-directeur :
Michael TEXIER
Unité de recherche :
IM2NP - Institut Matériaux Microélectronique Nanosciences de Provence
Intitulé de l'équipe :
Master
Intitulé : Sciences et génie des matériaux
Juin 2015 - Ecole Nationale Supérieure des Mines et Metallurgie
Langues vivantes
Anglais : C1 - Avancé
Français : C1 - Avancé
Arabe : C2 - Maternel
Espagnol : A2 - Élémentaire
Production scientifique
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Low-temperature intrinsic plasticity in silicon at small scales
Acta Materialia
2018
A.Merabet, M.Texier, C.Tromas, S.Brochard, L.Pizzagalli, L.Thilly, J.Rabier, A.Talneau, Y.-M.Le Vaillant, O.Thomas, J.Godet.
https://doi.org/10.1016/j.actamat.2018.09.025
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Atomic scale mechanisms and brittle to ductile transition at low size in silicon
Materials Today: Proceedings
2018
S. Brochard, F. Abed El Nabi, L. Pizzagalli, A. Merabet, M. Texier, C. Tromas, J. Godet
https://doi.org/10.1016/j.matpr.2018.03.059
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Plastic behaviour and deformation mechanisms in silicon nano-objects
Journal of Physics: Conference Series (JPCS)
2018
M. Texier, A. Merabet, C. Tromas, S. Brochard, L. Pizzagalli, L. Thilly, J. Rabier, A. Talneau, Y.-M. Le Vaillant, O. Thomas, J. Godet
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Piezoelectric response by in situ synchrotron X-ray diffraction and electrical properties of PZT thin films: The role of imprint and composition
JOURNAL OF APPLIED PHYSICS
2017
T.W. Cornelius1, C. Mocuta, S. Escoubas, A. Merabet, M. Texier, E.C. Lima, E.B. Araujo,A.L. Kholkin, O. Thomas
https://doi.org/10.1063/1.4994939