enseignant-chercheur, enseignant du supérieur*
Coordonnées
tarek.saad-saoud@im2np.fr
Doctorat
Intitulé : Sciences pour l'ingénieur : spécialité Micro et Nanoélectronique
1ère inscription en thèse :
Octobre 2013
École doctorale :
SCIENCES POUR L'INGENIEUR : Mécanique, Physique, Micro et Nanoélectronique
Date de soutenance de la thèse :
19 Décembre 2017
Sujet :
Métrologie de lenvironnement radiatif terrestre atmosphérique à laide de différents détecteurs solides
Directeur de thèse :
Jean-Luc AUTRAN
Co-directeur :
Daniela MUNTEANU
Unité de recherche :
IM2NP - Institut Matériaux Microélectronique Nanosciences de Provence
Intitulé de l'équipe :
Master
Intitulé : Master sciences et Technologie Mention microélectronique et nanoélectronique (MINELEC)
Septembre 2013 - Aix-Marseille Université
Mention : TB
Langues vivantes
Français : C2 - Courant
Anglais : B2 - Intermédiaire supérieur
Arabe : C2 - Maternel
Production scientifique
-
Behavioral Modeling of SRIM Tables for Numerical Simulation
NIM.B
2014
S. Martinie1, T. Saad Saoud, S. Moindje, D. Munteanu, J.L. Autran
http://www.sciencedirect.com/science/article/pii/S0168583X13011920#
-
Use of CCD to Detect Terrestrial Cosmic Rays at Ground Level: Altitude vs. Underground Experiments, Modeling and Numerical Monte Carlo Simulation
IEEE
2015
T. Saad Saoud, S. Moindjie, J.L. Autran, D. Munteanu, F. Wrobel, F. Saigné, P. Cocquerez, L. Dilillo
http://ieeexplore.ieee.org/xpl/login.jsp?tp=&arnumber=6954525&url=http%3A%2F%2Fieeexplore.ieee.org%2Fiel7%2F23%2F6976033%2F06954525.pdf%3Farnumber%3D6954525
-
ASTEP (20052015): Ten years of soft error and atmospheric radiation characterization on the Plateau de Bure
Microelectronics Reliability
2015
J.L. Autran, D.Munteanua, S. Moindjie, T. Saad Saoud, S. Sauze. Gasiot, P. Roche
-
Charge Collection Physical Modeling for Soft Error Rate Computational Simulation in Digital Circuits
Modeling and Simulation in Engineering Sciences
2016
Jean-Luc Autran, Daniela Munteanu, Soilihi Moindjie, Tarek Saad Saoud, Victor Malherbe, Gilles Gasiot, Sylvain Clerc and Philippe Roche
http://www.intechopen.com/books/modeling-and-simulation-in-engineering-sciences/charge-collection-physical-modeling-for-soft-error-rate-computational-simulation-in-digital-circuits
-
Natural radiation events in CCD imagers at ground level
Microelectronics Reliability
2016
T. Saad Saoud, S. Moindjie, D. Munteanu, J.L. Autran
-
Natural Radiation Effects in CCD devices
Ionizing Radiation Effects in Electronics: From Memories to Imagers
2015
T. Saad Saoud, S. Moindjie, D. Munteanu, J.L. Autran
-
Characterization of Atmospheric Muons at Sea Level using a Cosmic-Ray Telescope
Microelectronics Reliability
2016
T.Saad Saoud, S. Moindjie, J.L. Autran, D. Munteanu, V. Malherbe, G. Gasiot, P. Roche
