Soutenance de thèse de ARSAC Lucas


Titre de thèse

Développement de stratégies de contrôle optique monochromatique pour la fabrication de filtres optiques en couches minces avec des technologies de dépôt physique en phase vapeur

Development of monochromatic optical control strategies for the fabrication of optical thin-film filters
with physical vapor deposition technologies

Date

4 décembre 2025 à 10h00

Adresse

Campus universitaire de Saint-Jérôme, Amphithéâtres Ponte et Rouard, 142 Rue Henri Poincaré, 13013 Marseille, Amphithéâtre Ponte

Ecole doctorale

Physique et Sciences de la Matière

Specialité

PHYSIQUE & SCIENCES DE LA MATIERE - Spécialité : OPTIQUE, PHOTONIQUE ET TRAITEMENT D'IMAGE

Etablissement

Aix-Marseille Université

Mots clés

Filtres optiques,Contrôle optique in-situ,Couches minces,Stratégie de contrôle,PVD,

Keywords

Optical filters,In-situ optical control,Thin films,Monitoring strategy,PVD,

Jury

Jury de thèse
Qualité Nom Etablissement
Directeur de recherche M. LUMEAU Julien Institut Fresnel, CNRS, Marseille
Maître de conférences M. LEMARCHAND Fabien Institut Fresnel, Centrale Méditerranée, Marseille
Ingénieur de recherche M. PINARD Laurent LMA, CNRS, Lyon
Professeur M. MOREAU Antoine Institut Pascal, Université de Clermont-Ferrand
Ingénieure de recherche Mme CHOREL Marine CEA CESTA, Bodeaux
Docteur M. BRAUNECK Ulf Schott Suisse SA, Yverdon-les-Bains
Directeur de recherche M. AMRA Claude Institut Fresnel, CNRS, Marseille
Professeur M. NATOLI Jean-Yves Institut Fresnel, Aix-Marseille Université

Résumé de la thèse

Cette thèse porte sur le développement de stratégies de contrôle optique pour la fabrication de filtres optiques en couches minces réalisés avec la technologie de pulvérisation magnétron.
La réponse spectrale d'un empilement multicouche est directement déterminée par l'indice de réfraction et l'épaisseur des couches qui le constituent. Pour obtenir des filtres de haute performance répondant aux exigences élevées des applications scientifiques et industrielles de pointe, un contrôle extrêmement précis de l'épaisseur des couches est indispensable. Parmi les différentes méthodes de contrôle disponibles, on peut identifier deux grandes catégories : les techniques de contrôle non optique et les techniques de contrôle optique.
Bien qu'elles soient généralement plus simples et plus faciles à mettre en œuvre, les techniques de contrôle non optiques sont généralement assez peu précises (quelques pourcents) et, par conséquent, s'avèrent inadaptées aux conceptions hautement sensibles aux erreurs. Ce travail s'est donc concentré sur les stratégies basées sur le contrôle optique, avec pour objectif d'assurer un contrôle suffisamment précis de l'épaisseur des couches au cours de la fabrication. Le contrôle optique consiste à mesurer, in situ et en temps réel, l'évolution de la transmittance (ou de la réflectance) du filtre pendant la croissance des couches. Ce contrôle peut être réalisé soit en mode large bande, i.e. en contrôlant le spectre sur une large gamme spectrale, soit en mode monochromatique, i.e. en contrôlant à une unique longueur d'onde. Les deux approches présentent chacune leurs avantages et leurs inconvénients. Toutefois, ce travail de thèse s'est limité au contrôle optique monochromatique.
Le contrôle monochromatique, bien qu'il permette une précision accrue, est généralement complexe à utiliser car il requiert des connaissances approfondies en physique des couches minces, en technique de dépôt ainsi qu'en systèmes de contrôle optique. Un des facteurs clés de la bonne réussite du contrôle optique réside dans le choix de la (ou les) longueur(d) d'onde de contrôle, qui influence très fortement le déroulement du dépôt et peut conduire à des résultats autant excellents que très médiocres.
Dans ce contexte, nous avons développé dans le cadre de cette thèse des algorithmes visant à sélectionner automatiquement une ou des longueurs d'onde pertinentes pour la fabrication d'un filtre donné. Deux fonctions optiques représentatives ont été principalement utilisées comme cas d'étude : une fonction passe-bande et une fonction multi passe-bande. Les algorithmes ont ensuite été testés sur un large éventail de fonctions optiques différant par leur forme spectrale, leur nombre de couches et leur sensibilité aux erreurs. Parmi celles-ci figurent, entre autres, des traitements antireflet (AR), des séparateurs de faisceau, des filtres dichroïques (type passe-bas ou passe haut) ou encore des filtres Notch. La réalisation réussie de ces filtres a non seulement validé l'efficacité de l'approche algorithmique décrite ici, mais a également fourni de précieuses informations sur les mécanismes physiques sous-jacents au contrôle optique, permettant ainsi d'affiner en retour les algorithmes développés.
L'ensemble des algorithmes a été progressivement implémenté dans un logiciel dédié, transféré à la société Bühler Leybold Optics. Son objectif final est d'assister les ingénieurs de dépôt dans la recherche de solutions de contrôle optique concrètes, en générant automatiquement et de manière intuitive des stratégies de contrôle robustes et efficaces. Bien qu'il n'existe aucune solution universelle en termes de stratégies permettant de fabriquer n'importe quel type de filtres, les résultats de cette thèse démontrent que les méthodes que nous avons développées permettent de répondre efficacement à un large spectre de besoins en traitements optiques des surfaces, tant industriels que scientifiques — des plus classiques aux moins conventionnels.


Thesis resume

This Ph. D. thesis is devoted to the development of optical monitoring strategies for the fabrication of thin-film optical filters using the magnetron sputtering deposition technique.
The spectral response of a multilayer stack is directly determined by the refractive index and thickness of its constituent layers. To achieve high-performance filters that meet the challenging requirements of cutting-edge scientific and industrial applications, very precise control of layer thickness is essential. Among the various monitoring methods available, two main categories can be distinguished: non-optical and optical monitoring techniques.
While non-optical techniques are generally simpler and more easily implemented, they are generally less accurate than monochromatic optical monitoring (about a few percent), and thus unsuitable for highly error-sensitive designs requiring precise layer control. This work focuses exclusively on strategies based on optical monitoring, aiming to ensure sufficiently accurate control of layer thickness during fabrication. Optical monitoring consists of in-situ and real-time measurement of the filter's transmittance (or reflectance) as deposition progresses. Such monitoring can be performed either in a broadband mode—controlling the spectrum over a wide spectral range—or in a monochromatic mode—controlling at a single wavelength. Both methods present their own advantages and limitations. However, only monochromatic optical monitoring was investigated in this thesis work.
Monochromatic monitoring, though capable of delivering higher accuracy, is generally more complex to implement and demands in-depth expertise in thin-film physics, deposition processes, and optical monitoring systems. A crucial factor is the choice of monitoring wavelength(s), which strongly influences the deposition outcome and may yield results ranging from excellent to extremely poor.
In this context, the present work aims to develop algorithms capable of automatically selecting relevant monitoring wavelength(s) for the fabrication of a given filter design. Two representative optical functions were mostly taken as study cases: a bandpass function and a multi-bandpass function. The algorithms were then evaluated across a broad range of optical functions differing in spectral shape, layer number, and error sensitivity. These included, among others, antireflection (AR) coatings, beamsplitters, dichroic filters, and notch filters. The successful realization of these filters both validated the effectiveness of the algorithmic approach proposed here, and provided new valuable insights into the underlying physical mechanisms of optical monitoring, enabling further enhancement of the developed methods.
All algorithms were gradually implemented in a dedicated software tool, transferred to Bühler Leybold Optics company. Its purpose is assisting coating engineers in efficiently finding practical monitoring solutions by automatically and intuitively generating reliable monitoring strategies. Although no universal monitoring approach can apply to every possible optical design, the results of this Ph. D. demonstrate that the developed methods can effectively address a wide spectrum of industrial and scientific optical coating requirements—ranging from conventional to highly specific applications.