Monsieur Valentin ALLARD / Docteur

enseignant-chercheur, enseignant du supérieur*chercheur en milieu académique*chercheur en entreprise, R&D du secteur privé*pilotage de la recherche et de l'innovation, gestion de projets innovants, pilotage de structures innovantes*

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Recherche : NON

Doctorat

Titre : PHYSIQUE & SCIENCES DE LA MATIERE - Spécialité : OPTIQUE, PHOTONIQUE ET TRAITEMENT D'IMAGE

1ère inscription en thèse : 1 octobre 2022 / 3A

Ecole doctorale : Physique et Sciences de la Matière

Date de soutenance de thèse : 30 octobre 2025

Sujet : Microscopie optique de champ proche : de l'analyse quantitative de couches minces diélectriques à l'étude qualitative de biomatériaux.

Directeur de thèse : LEREU Aude

Co-directeur : LUMEAU Julien

Unité de recherche : Institut FRESNEL - Sciences et Technologies de l'Optique, l'Electromagnétisme, et l'Image

Master

Titre : Physique Appliquée et Ingénierie Physique

March 2022 - Université de technologie de Troyes

Production scientifique

  • Calibrated dielectric thin films for scattering-Scanning NearField Optical Microscopy
    Optics Letters, 2025
    V. ALLARD, J. LUMEAU, A. L. LEREU
    en attente de révision
  • Intervalence plasmons in boron-doped diamond
    Nature Communications, 2025
    Bhattacharya Souvik, Boyd Jonathan, Reichardt Sven, Allard Valentin, Talebi Amir Hossein, Maccaferri Nocolo, Shenderova Olga, Lereu Aude L., Wirtz Ludger, Strangi Giuseppe, Sankaran R. Mohan
    https://www.nature.com/articles/s41467-024-55353-0#citeas
  • Investigating ultra-thin Ag and Au layers using spectrophotometry and AFM imaging
    Journal of the European Optical Society : Rapid publications, 2024
    Riley Shurvinton, Valentin Allard, Aude L. Lereu, Antonin Moreau, Fabien Lemarchand, Julien Lumeau
    https://hal.science/hal-04735379v1
  • Investigating ultra-thin Ag and Au layers using spectrophotometry and AFM imaging
    Journal of the European Optical Society : Rapid publications, 2024
    Riley Shurvinton, Valentin Allard, Aude L. Lereu, Antonin Moreau, Fabien Lemarchand, Julien Lumeau
    https://hal.science/hal-04735379v1
  • Investigation of laser-induced contamination on dielectric thin films in MHz sub-ps regime
    Advanced Optical Technologies, 2024
    Marek Stehlik, Janis Zideluns, Camille Petite, Valentin Allard, Marco Minissale, Antonin Moreau, Aude L. Lereu, Fabien Lemarchand, Frank Wagner, Julien Lumeau, Laurent Gallais
    https://cnrs.hal.science/hal-04453689v1
  • Investigation of laser-induced contamination on dielectric thin films in MHz sub-ps regime
    Advanced Optical Technologies, 2024
    Marek Stehlik, Janis Zideluns, Camille Petite, Valentin Allard, Marco Minissale, Antonin Moreau, Aude L. Lereu, Fabien Lemarchand, Frank Wagner, Julien Lumeau, Laurent Gallais
    https://cnrs.hal.science/hal-04453689v1
  • Local (nanometric) quantification of the optical properties of SiO2 dielectric layers with scattering scanning nearfield optical microscope
    2024
    Valentin Allard, Olivier Hector, Julien Lumeau, Antonin Moreau, Aude Lereu
    https://amu.hal.science/hal-04912405v1
  • Local (nanometric) quantification of the optical properties of SiO2 dielectric layers with scattering scanning nearfield optical microscope
    2024
    Valentin Allard, Olivier Hector, Julien Lumeau, Antonin Moreau, Aude Lereu
    https://amu.hal.science/hal-04912405v1

Langues

Anglais : C2 - Courant

Français : C2 - Maternel