Monsieur Zhe REN / Docteur

Coordonnées

Adresse professionnelle

IM2NP UMR 7334 CNRS Aix-Marseille Université Faculté des Sciences, Campus de St Jérôme - Case 262 Avenue Escadrille Normandie Niemen, 13013 MARSEILLE , FRANCE

0033777835450

Emplois

Recherche : NON

Techniques maîtrisées

photoluminescence, X-ray diffraction, SEM, Hall measurements, writed some recipes for MOVPE and helped CL measurments

Doctorat

Titre : PHYSIQUE & SCIENCES DE LA MATIERE - Spécialité : MATIERE CONDENSEE et NANOSCIENCES

1ère inscription en thèse : 3 octobre 2012 / 3A

Ecole doctorale : Physique et Sciences de la Matière

Date de soutenance de thèse : 16 décembre 2015

Sujet : Nanomécanique: étude in situ de nanoobjects sous chargement mécanique par diffraction des rayons X

Directeur de thèse : THOMAS Olivier

Co-directeur : CORNELIUS Thomas

Unité de recherche : IM2NP - Institut Matériaux Microélectronique Nanosciences de Provence

Master

Titre : master of science

avril 2012 - ulm university

Production scientifique

Scanning force microscope for in situ nanofocused X-ray diffraction studies
Journal of Synchrotron Radiation, 2014
Z. Ren, F. Mastropietro, A. Davydok, S. Langlais, M.-I. Richard, J.-J. Furter, O. Thomas, M. Dupraz, M. Verdier, G. Beutier, P. Boesecke and T. W. Cornelius
http://dx.doi.org/10.1107/S1600577514014556
In situ bending of an Au nanowire monitored by micro Laue diffraction
Journal of Applied Crystallography, 2015
Cédric Leclere, Thomas W. Cornelius, Zhe Ren, Anton Davydok, Jean-Sébastien Micha, Odile Robach, Gunther Richter, Laurent Belliard and Olivier Thomas
http://scripts.iucr.org/cgi-bin/paper?nb5141

Langues

Anglais : B1 - Intermédiaire

Allemand : A1 - Débutant

Chinois : C2 - Maternel

Français : A1 - Débutant