Monsieur Alexandre VAUSELLE / PhD

Contact details

Professional experience

Field of activity : Nanotechnologie

Contract type : Entreprises

Function : Ingénieur Process Intégration

Organization or company : STMicroelectronics

Website : www.st.com

Company size : 2000

City : Rousset cedex

Country : FRANCE

Jobs

Additional information : Sport : Handball

Research : NON

Skills

Outils Informatiques : Windows, Linux, MS Office

Techniques

Scientifiques : Métrologie optique, Transfert Thermiques, Mécanique, Matériaux Modélisation / Programmation : Comsol, Cast3M, Matlab, Visual Basic, Labview Dessin technique : Autocad

PhD

Title : PHYSIQUE & SCIENCES DE LA MATIERE - Spécialité : OPTIQUE, PHOTONIQUE ET TRAITEMENT D'IMAGE

First registration date : 1 February 2010 / 4A

Doctoral school : Physique et Sciences de la Matière

Thesis defense date : 19 December 2013

Subject : Métrologie des dimensions critiques : Scattérométrie et développements avancés

Thesis supervisor : DEUMIE Carole

Thesis co-supervisor : GEORGES Gaëlle

Research unit : Institut FRESNEL - Sciences et Technologies de l'Optique, l'Electromagnétisme, et l'Image

Master's degree

Title : Diplôme d'Ingénieur de l'Ecole Polytechnique de l'Université de Nantes

September 2008 - Ecole Polytechnique de l'Université de Nantes

Publications

  • Roughness influence on periodic gratings and application to optical metrology of roughness
    Proceeding SPIE, 2010
    Alexandre Vauselle Institut Fresnel, CNRS, Aix-Marseille Univ. (France) and STMicroelectronics (France) Laurent Arnaud, Gaëlle Georges, Claude Amra, and Carole Deumié Institut Fresnel, CNRS, Aix-Marseille Univ. (France) Philippe Maillot STMicroelectronics (France)
    http://spiedl.aip.org/getabs/servlet/GetabsServlet?prog=normal&id=PSISDG00779200000177920W000001&idtype=cvips&gifs=yes&ref=no
  • Optical far field measurements applied to microroughness determination of periodic microelectronic structures
    Proceeding SPIE : Metrology, Inspection, and Process Control for Microlithography XXV, 2011
    Alexandre Vauselle; Philippe Maillot; Gaëlle Georges; Carole Deumié
    http://spie.org/x648.html?product_id=879436
  • Micro Roughness Determination Of Periodic Microelectronics Structures Using Optical Far Field Measurements
    AIP Conference Proceedings, 2011
    Alexandre Vauselle, Philippe Maillot, Gaëlle Georges, and Carole Deumié
    http://dx.doi.org/10.1063/1.3657909
  • Feasablility studies for speckle interferometry used to measure deformation in nuclear fuel cladding
    Nuclear Technology, 2012
    Vauselle A., Pontillon Y., Gallais L.
    http://www.new.ans.org/pubs/journals/nt/a_13372
  • Feasibility Studies for Speckle Interferometry Used to Measure Deformation in Nuclear Fuel Cladding
    Nuclear Technology, 2012
    Alexandre Vauselle, Yves Pontillon, Laurent Gallais
    http://www.new.ans.org/pubs/journals/nt/a_13372

Languages

Anglais : C1 - Avancé